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ASTM D5796-03用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法

ASTM D5796-03用钻孔装置破坏性测量薄膜盘绕覆层系统的干膜厚度的标准试验方法

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资料语言: 简体中文
资料类别: 吉林省
更新日期: 2020-12-23
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推荐信息: 盘绕   钻孔   薄膜   厚度   测量

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