GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理
标准简介
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适用范围:本标准针对GB/T 4937.30-2018 半导体器件 机械和气候试验方法 第30部分:非密封表面安装器件在可靠性试验前的预处理提出了仪器设备与操作步骤的技术要求,确保检测技术检测结果准确可靠。
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