您现在的位置：首页 > 标准库 > 国家标准>GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法

GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法

资料大小： 411.13 KB
文档格式： PDF文档
资料语言： 简体中文
资料类别： 国家标准
更新日期： 2019-11-13
下载说明：
推荐信息： 硅片   电阻率   径向   测量方法   变化

本地下载(0点)  备用下载(0点)

简介
GB∕T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法
本标准规定了用直排四探针方法测量硅单晶片径向电阻率变化的方法。本标准适用于硅片厚度小于探针平均间距。
  • 本文件为PDF文档. GB/T 11073-1989 硅片径向电阻率变化的测量方法文件大小 411.13 KB
  • 本文档关键词: 硅片   电阻率   径向   测量方法   变化
    • 相关推荐

    下载排行

    GB/T 38466-2020 藤家具通用技术条件
    GB/T 19146-2010 红外人体表面温度快速筛检仪(有黑印)
    GB 19082-2009 医用一次性防护服技术要求
    GB/T 33173-2016 资产管理 管理体系 要求
    GB 19084-2003 普通脱脂纱布口罩
    GB/T 26493-2011 电池废料贮运规范
    GB/T 38526-2020 航天推进系统钛管材
    GB 19082-2003 医用一次性防护服技术要求
    GB/T 37568-2019 铜及铜合金镀锡带材
    GB/T 19665-2005 电子红外成像人体表面测温仪通用规范
    标准规范
    国家标准
    行业标准
    地方标准
    知识库
    机械知识
    建筑知识
    化工知识
    素材模型
    CAD图纸
    3D模型
    PPT模板
    网站相关
    帮助说明

    客服QQ

    点击这里给我发消息
    1191775555

    © 2010-2020 库七七网 www.kqqw.com 技术交流与学习平台！