GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法

文件格式： PDF文档
文件大小： 96.36 KB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 测试   性能   弹性模量   结构   电子元器件
进入标准下载页面

标准简介

GB/T 5594.2-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法 杨氏弹性模量、泊松比测试方法 本标准适用于室温下电子器件结构陶瓷材料的杨氏弹切变模量和泊松比的测量。
相关推荐