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GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

GB/T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法

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更新日期： 2019-11-13

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推荐信息： 损耗介质测试性能正切

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简介

GB∕T 5594.4-1985 电子元器件结构陶瓷材料性能测试方法介质损耗角正切值的测试方法
本标准适用于测定电子器件结构陶瓷材料在频率1MHz、温度从室温至500℃条件下的介质损耗角正切值。

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