GB 3443-1982 半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理

文件格式： PDF文档
文件大小： 1.63 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 存储器   随机   测试   基本原理   方法
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标准简介

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适用范围：本标准对半导体集成电路MOS随机存储器测试方法的基本原理的仲裁检验与能力验证作出了规定，为检测技术的质量保证提供依据。

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