GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法

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语言版本：简体中文

标准类别：国家标准

关键词：封装引线电阻测试方法

标准简介

GB/T 19248-2003 封装引线电阻测试方法本标准规定了测量封装引线电阻的方法。本标准适用于针栅阵列封装(PGA)引线电阻的测试。该测试技术也适用于其他微电子封装如无引线片式载体(LCC)、四边引线扁平封装(QFP)和陶瓷双列封装(CDIP)等引线电阻的测试。