您现在的位置:首页 > 标准库 >GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法

资料大小: 372.59 KB
文档格式: PDF文档
资料语言: 简体中文
发布日期:
实施日期:
标准状态:

本地下载(0点)  备用下载(0点)

简介
GB∕T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法
  • 本文件为PDF文档. GB/T 14863-1993 用栅控和非栅控二极管的电压-电容关系测定硅外延层中净载流子浓度的标准方法文件大小 372.59 KB