GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定

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语言版本：简体中文

标准类别：国家标准

关键词：贵金属测定测试浆料微电子技术

标准简介

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适用范围：本标准针对GB/T 17473.3-1998 厚膜微电子技术用贵金属浆料测试方法方阻测定提出了仪器设备与操作步骤的技术要求，确保检测技术检测结果准确可靠。