GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法

文件格式： PDF文档
文件大小： 851.84 KB
语言版本： 简体中文
标准类别： 国家标准
关键词： 分立   器件   集成电路   半导体   测试
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标准简介

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适用范围：本文件明确了GB/T 15651.3-2003 半导体分立器件和集成电路 第5-3部分：光电子器件 测试方法的方法验证与不确定度评定要求，适用于检测技术的质量控制。

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