JIS K0149-1-2008 Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating im

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语言版本： 日文版
标准类别： 国外标准
关键词： JIS   K0149   2008   Microbeam   analysis
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JIS K0149-1-2008 Microbeam analysis -- Scanning electron microscopy -- Guidelines for calibrating image magnification
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