ASTM F1152-1993(2001) Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers1

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语言版本：英文版

标准类别：国外标准

关键词： ASTM F1152 1993 2001 Standard

标准简介

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适用范围：本文件涵盖了ASTM F1152-1993(2001) Standard Test Method for Dimensions of Notches on Silicon Wafers1的主要技术管理内容，适用于国外标准的技术改造与设备管理。