JIS H7804-2005 用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法

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语言版本： 日文版
标准类别： 国外标准
关键词： 晶体   测定   金属   粒径   显微
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标准简介

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适用范围：本标准针对JIS H7804-2005 用电子显微法测定金属晶体的粒径的方法提出了仪器设备与操作步骤的技术要求，确保检测技术检测结果准确可靠。

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