0.8μm﹢SOI﹢CMOS抗辐射加固工艺辐射效应研究

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资源类别： 电子
关键词： 加固   辐射   效应   工艺   研究
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0.8μm﹢SOI﹢CMOS抗辐射加固工艺辐射效应研究
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