SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法

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文件大小： 37.38 KB
语言版本： 简体中文
标准类别： 电子
关键词： 器件   半导体   发光   测试   正向
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标准简介

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适用范围：本文件明确了SJ 2355.2-1983 半导体发光器件测试方法 正向压降的测试方法的方法验证与不确定度评定要求，适用于检测技术的质量控制。

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