SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法

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语言版本： 简体中文
标准类别： 电子
关键词： 器件   半导体   发光   测试   光通量
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标准简介

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适用范围：本标准对SJ 2355.6-1983 半导体发光器件测试方法 光通量的测试方法的仲裁检验与能力验证作出了规定，为检测技术的质量保证提供依据。

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