SJ/T 10705-1996 半导体器件键合丝表面质量检查方法

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文件大小: 373.56 KB
语言版本: 简体中文
标准类别: 电子
关键词: 表面   质量   检查   半导体器件   方法

标准简介

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适用范围:本文件明确了半导体器件键合丝表面质量检查方法的方法验证与不确定度评定要求,适用于检测技术的质量控制。

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