GB∕T 32817-2016 半导体器件 微机电器件 MEMS总规范
本标准描述了用半导体制造的微机电系统(MEMS)的总规范,规定了用于IECQ-CECC体系质量评定的一般规程,给出了电、光、机械和环境特性的描述和测试的总则。本标准适用于各类MEMS器件[如传感器、射频MEMS,但不包括光MEMS、生物MEMS、微全分析系统(Micro-TAS)和微能源MEMS]。

本文件为PDF文档. GB/T 32817-2016 半导体器件 微机电器件 MEMS总规范文件大小 1.25 MB