T/IAWBS 016-2022 碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法

文件格式： PDF文档
文件大小： 1.33 MB
语言版本： 简体中文
标准类别： 团体标准
关键词： 晶片   摇摆   射线   曲线   测试
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标准简介

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适用范围：本标准涵盖了碳化硅单晶片X射线双晶摇摆曲线半高宽测试方法的主要技术内容，是检测技术领域的重要参考文件。

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