[团体标准] T/CASAS 003-2018 p沟道IGBT器件用4H碳化硅外延晶片
[团体标准] T/ZSA 38-2020 SiC晶片的残余应力检测方法
[电子行业标准] SJ 21446-2018 CdS-N-T型红外_紫外双色探测用硫化镉单晶片规范
[电子行业标准] SJ 21442-2018 GaN-SI型半绝缘氮化镓单晶片规范
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[电子行业标准] SJ 20520-1995 碲镉汞薄膜用碲锌镉晶片规范
[电子行业标准] SJ/T 11497-2015 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
[电子行业标准] SJ/T 11492-2015 光致发光法测定磷镓砷晶片的组分
[电子行业标准] SJ/T 11487-2015 半绝缘半导体晶片电阻率的无接触测量方法
[国外标准] DIN 86266-2006 船舶和航海技术 法兰连接的超轻型晶片式和有法兰的碟阀
[吉林省地方标准] ASTM D5814-02用蚀斑试验测定再循环聚对苯二甲酸乙酯薄膜和晶片中杂质的标准试验实施规范
[团体标准] T/ZZB 0497-2018 声表面波器件用单晶晶片
[国外标准] ASTM F1212-89(2002) 砷化镓晶片热稳定性的试验方法
[其他未分类标准] GJB 6259-2008 碲镉汞探测器晶片用直粘型抛光布规范
[国家标准] GB/T 5238-2019 锗单晶和锗单晶片
[国家标准] GB/T 16596-2019 确定晶片坐标系规范
[国家标准] GB/T 16595-2019 晶片通用网格规范
[国家标准] GB/T 26071-2018 太阳能电池用硅单晶片
[国家标准] GB/T 34481-2017 低位错密度锗单晶片腐蚀坑密度(EPD)的测量方法
[有色金属行业标准] YS/T 986-2014 晶片正面系列字母数字标志规范
[国家标准] GB/T 32278-2015 碳化硅单晶片平整度测试方法
[国家标准] GB/T 30868-2014 碳化硅单晶片微管密度的测定 化学腐蚀法
[国家标准] GB/T 30867-2014 碳化硅单晶片厚度和总厚度变化测试方法